
我們將介(jiè)紹如何使用靜電發生器,電流鉗和示波器,快速測量線纜屏蔽質量的好壞。

圖(tú)1.ESD信號發生器對屏蔽線纜(lǎn)屏蔽(bì)層放(fàng)電
圖(tú)1顯示了,靜電發(fā)生器直接注入ESD信號到同軸電纜的屏蔽(bì)層上。當靜電放電,電流流過電纜(lǎn)屏蔽層時(shí),一些不希望出(chū)現的ESD“信號”會通過屏蔽層和連接器中的缺陷泄漏出(chū)去。泄露量的多少與屏蔽(bì)層阻抗和高頻特性有直接(jiē)關係。
IEC 61000-4-2 ESD信號發生器的電流(liú)波形包含高頻和低頻分量(liàng),可參考圖2。高頻(pín)分量包含在波形的上(shàng)升沿中(上升時間小於1納(nà)秒),而上升(shēng)時間後半段的幾十納秒波(bō)形中(zhōng)包含了(le)低頻分量。波(bō)形的(de)高頻和低頻分量可用於快速確定電纜屏蔽層(céng)在較寬(kuān)的頻率範圍內(nèi)的屏蔽效果。

圖2. IEC 61000-4-2中ESD的電流(liú)波形
圖3顯示了測試布(bù)置的測量端。測試電纜端接(jiē)到示波器。電流探頭用於測量屏蔽層上流過的ESD電流,電流探頭另一端連接到示波器的輸入端(duān)。

圖3.接收端電流探頭和示波器(qì)
圖4顯示了,屏(píng)蔽層較(jiào)差的同軸電纜的測試情況(kuàng)。靜電(diàn)發生器設置輸出電壓(yā)為500V。紅色的測試波形顯示,ESD電流波達到1A,且初始(shǐ)上升沿電壓接近7V,由於高頻阻抗較大的原因,當ESD電流在(zài)經過(guò)屏蔽層的時候,產生加大的壓降(jiàng),上升(shēng)沿電壓值體現了此屏蔽線高頻特(tè)性較差。此外從(cóng)測試波形看(kàn),低頻部(bù)分幾十納秒的時間裏,電壓幅值(zhí)也偏高(gāo),這表明電(diàn)纜屏蔽(bì)層在較低的頻率下具有明顯的阻抗。
圖4測試波形對應的電纜是便宜的同(tóng)軸(zhóu)電纜(lǎn),帶有金屬化聚脂薄膜的屏蔽層,在金屬箔的周圍隻有幾根(gēn)非常細的屏蔽線。

圖4.高(gāo)阻抗屏蔽電纜(lǎn)電壓和電流波形
圖5顯示了高質量(liàng)屏蔽的50Ω同軸電纜(雙層屏蔽,屏蔽層編織線稠密)的測(cè)試結果。電壓峰值僅(jǐn)為200 mV。另外,電壓響應的低頻分量(liàng)很小,這表明屏蔽層的阻抗很低。

總結:將(jiāng)ESD信號發生器輸出應用(yòng)於電纜屏蔽層(céng),可以快(kuài)速了解屏(píng)蔽層的好壞。並(bìng)能從測量波形中看出屏蔽層阻抗的大小和高頻特性的好壞(huài)。
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